Înapoi

Permite masurarea compozitiei chimice a diverselor obiecte, inclusiv a obiecctelor de arta. Elementele chimice analizate sunt cuprinse in intervalul Z=12 (Mg), Z=92(U). Metoda implica masurarea fluorescentei benzii K a diverselor elemente din proba  prin excitarea acestora cu un fascicul de raze-X obtinut de la un tub de raze-X, in general avand anod de rodiu (Rh) sau argint (Ag). 

Caracteristici ale sistemului:

  • analiza directa nedistructiva, atat calitativa cat si cantitativa a elementelor probei;
  • independenta fata de pozitia probei in aparatul de masura;
  • distanta mica intre proba si detector facilitand astfel posibilitatea masurarii elementelor usoare;
  • operare si servisare simpla.

Optionale:

  • golul dintre proba si fereastra detectorului poate fi umplut cu He astfel incat intensitatea liniilor X din elementele usoare sa fie marita;
  • sistem precis de pozitionare reglabil a probei fata de fereastra detectorului pentru a facilita analize de tipul strat cu strat (tomografie XRF).

 

 

Parametru

Valoare

Localizarea analizei

Spotul fasciculului X pe proba intre 0.1 – 12 mm

Sursa de raze-X

Anod de Ag sau Rh, tensiunea de polarizare intre 4-50kV si curent de anod de pana la 1 mA

Filtrare de raze-X

Un set de filtre detasabile ce pot fi montate pentru optimizarea excitarii anumitor elemente

Colimare

Colimatoare detasabile ce pot fi montate pentru analiza unor elemente de volum mic

Tipul detectorului

Detector Si(li) cu racire prin efect Peltier

Masa maxima a probei

12Kg

Interfata utilizator

Software compatibil cu PC sau Notebook

Sursa de alimentare

220/110 V, 50/60 Hz sau 12 V (optional)

Putere consumata

140W

Înapoi

 

serious design .. by 2serious