Analizor de grosime a straturilor

Produse > Detectori cu semiconductori

Analizorul de grosime a straturilor este unul de tip multicanal fiind capabil sa masoare depuneri metalice cat si nemetalice (anticorizive, izolatoare, antioxidante, waterproof, etc), folosind metoda XRF. Elementele componente ce pot fi identificate sunt cuprinse in intervalul Z=12 (Mg), Z=92(U). Acest sistem de masura este destinat in special utilizarii in procesele industriale.

Caracteristici ale sistemului:

alegere automata a metodei de masurare pentru reducerea erorii relative a masuratorii;
comanda la distanta a analizorului si dotarea sistemului cu software ce permite comunicarea componentelor prin interfata Ethernet;
utilizare comoda si servisare simpla;
blocul de masura poate fi instalat sub sau deasupra probei;
computer industrial incorporat.

Carateristici tehnice:

Parametri	Valoare
Materialele substratului	Metale si nemetale
Elementele depuse	Mg-U si compusii acestora
Sensibilitatea masuratorii pentru Al, Ti, Ti02 depuse pe un substrat de inox (nm)	50 – 30000
Sensibilitatea masuratorii pentru Cu, Zn, Ni depuse pe un substrat de inox (nm)	5 – 5000
Sensibilitatea masuratorii pentru Au depus pe un substrat de inox (nm)	2 – 3000
Eroare relativa pentru un timp de masura de 5s	1…10 %
Temperatura ambianta de functionare	+5 to +40
Sursa de radiatie-X	Tub de raze-X (Mo, Rh, Ag etc.)
Tipul detectorului	Detector SDD
Sursa de alimentare 50/60 Hz, VAC:	220/380 V