Analizor XRF de tip A-Art M

Permite masurarea compozitiei chimice a diverselor obiecte, inclusiv a obiecctelor de arta. Elementele chimice analizate sunt cuprinse in intervalul Z=12 (Mg), Z=92(U). Metoda implica masurarea fluorescentei benzii K a diverselor elemente din proba prin excitarea acestora cu un fascicul de raze-X obtinut de la un tub de raze-X, in general avand anod de rodiu (Rh) sau argint (Ag).

Caracteristici ale sistemului:

• analiza directa nedistructiva, atat calitativa cat si cantitativa a elementelor probei;
• independenta fata de pozitia probei in aparatul de masura;
• distanta mica intre proba si detector facilitand astfel posibilitatea masurarii elementelor usoare;
• operare si servisare simpla.

Optionale:

• golul dintre proba si fereastra detectorului poate fi umplut cu He astfel incat intensitatea liniilor X din elementele usoare sa fie marita;
• sistem precis de pozitionare reglabil a probei fata de fereastra detectorului pentru a facilita analize de tipul strat cu strat (tomografie XRF).